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日本日置 阻抗分析仪IM3570


2014-06-17 09:25:49  

产品特点:

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 
   1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 
   LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 
   基本精度±0.08%的高精度测量 
   适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 
   分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

技术参数:


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